元器件iv曲線掃描儀器

源表特點(diǎn)：
多功能：可作源和負(fù)載，又能測(cè)；
---率：滿足多種測(cè)試需求；
可編程控制：---可調(diào)，靈活控制；
iv掃描：快速、直觀顯示，一步操作。


應(yīng)用領(lǐng)域：
分立半導(dǎo)體器件特性測(cè)試，電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、pin二極管、bjt三極管、mosfet、sic、gan等器件；
能量與效率特性測(cè)試，led/amoled、太陽(yáng)能電池、電池、dc-dc轉(zhuǎn)換器等
傳感器特性測(cè)試，電阻率、霍爾效應(yīng)等
有機(jī)材料特性測(cè)試，電子墨水、印刷電子技術(shù)等
納米材料特性測(cè)試，石墨烯、納米線等

s系列源表特點(diǎn)：
1.5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作

2.內(nèi)置---的功能軟件，加速用戶完成測(cè)試，如liv、piv

3.源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.1%，分辨率5位半

4.四象限工作源和肼，源及測(cè)量范圍：高至300v，低至10pa

5.豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描

6.支持usb存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告

7.支持多種通訊方式，rs-232、gpib及以太網(wǎng)





應(yīng)用優(yōu)勢(shì)：
1、 多功能測(cè)量需求下的廣泛的適應(yīng)性，電壓高300v，電流低至100pa；
2、 實(shí)現(xiàn)“源”的輸出和“表”的測(cè)量同步進(jìn)行，提高測(cè)試效率。
3、 具備對(duì)測(cè)試器件的保護(hù)功能，可進(jìn)行自我---，避免因過(guò)充而造成的對(duì)測(cè)試器件的損害；
---的電壓電流---功能，為器件提供完善的保護(hù)功能，避免器件損壞。
4、 觸屏圖形化操作，使用簡(jiǎn)單。開放式平臺(tái)，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的需求而針對(duì)性的開發(fā)軟件。



國(guó)產(chǎn)優(yōu)勢(shì)
1、自主研發(fā)，符合大環(huán)境下國(guó)內(nèi)技術(shù)自給的需求；
2、---；
3、可及時(shí)與客戶溝通，為客戶提供---系統(tǒng)解決方案。及時(shí)指導(dǎo)客戶編程，加速測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)。

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